электронный журнал

МОЛОДЕЖНЫЙ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ВЕСТНИК

Издатель Академия инженерных наук им. А.М. Прохорова. Эл No. ФС77-51038. ISSN 2307-0609

Обзор методов измерения толщин термоэлектрических нанопленок

Файл статьи:

1. Шупенев А.Е. Развитие тонкопленочных технологий: от мыльных пузырей к современным нанотехнологиям // Молодежный научно-технический вестник. МГТУ им. Н.Э. Баумана. Электрон. журн. 2013. № 5. Режим доступа: http://sntbul.bmstu.ru/doc/568926.html (дата обращения 18.04.2014).

2. Григорьянц А.Г., Мисюров А.И., Шупенев А.Е. Особенности формирования субмикронных пленок теллурида висмута методом импульсного лазерного осаждения. Режим доступа: http://engjournal.ru/articles/234/html/index.html#/6/ (дата обращения 18.04.2014).

3. Григорьянц А.Г., Макаров В.В., Мисюров А.И., Башков В.М., Шупенев А.Е., Миронов Ю.М. Анализ поверхности тонких пленок Bi2Te3 осажденных методом импульсной лазерной абляции // Наука и образование МГТУ им. Н.Э. Баумана. Электрон. журн. 2011. № 11. Режим доступа: http://technomag.bmstu.ru/doc/239713.html (дата обращения 18.04.2014).

4.Словарь нанотехнологических и связанных с нанотехнологиями терминов. Режим доступа: http://thesaurus.rusnano.com/wiki/ (дата обращения 18.04.2014).

5. Егоров В.К., Егоров Е.В. Ионопучковые методы неразрушающего количественного контроля наноструктур // 10 Международная научно-техническая конференция «Высокие технологии в промышленности России»: материалы. М.: Техномаш, 2004. С. 82-103.