Информатика и системы управления
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Другие журналы

электронный журнал

МОЛОДЕЖНЫЙ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ВЕСТНИК

Издатель Академия инженерных наук им. А.М. Прохорова. Эл No. ФС77-51038. ISSN 2307-0609

Обзор основных атак по побочным каналам

Молодежный научно-технический вестник # 01, январь 2016
УДК: 004.056
Файл статьи: Чубатая...Н.С..pdf (374.36Кб)
авторы: Чубатая А., Ступин Н. С.

[1]     Zhou Y. B., Feng D. G. Side-Channel Attacks: Ten Years After Its Publication and the Impacts on Cryptographic Module Security Testing. Cryptology ePrint Archive. 2005. Available at:http://eprint.iacr.org/2005/388.pdf, accessed 16.02.2015.

[2]     Anderson R., Bond M., Clulow J., Skorobogatov S. Cryptographic Processors - A Survey // Proceedings of the IEEE. 2006. Vol. 94. No. 2. P. 357–369. DOI: 10.1109/JPROC.2005.862423.

[3]     Skorobogatov S., Anderson R. Optical Fault Induction Attacks // In Proceedings of Cryptographic Hardware and Embedded Systems (CHES 2002). Springer-Verlag, London, UK, 2003. Vol. 2523 of Lecture Notes in Computer Science (LNCS). P. 2–12.

[4]     Kocher P. Timing attacks on implementations of Diffie-Hellmann, RSA, DSS, and other systems // In Proceedings of the 16th Annual International Cryptology Conference on Advances in Cryptology (CRYPTO ’96). Springer-Verlag, London, UK, 1996. Vol. 1109 of Lecture Notes in Computer Science (LNCS). P. 104–113.

[5]     Kuhn M. Optical Time-Domain Eavesdropping Risks of CRT Displays // Proceedings of the 2002 IEEE Symposium on Security and Privacy. Berkeley, California, 2002. P. 3–18. DOI: 10.1109/SECPRI.2002.1004358.

[6]     Tiu C.C. A New Frequency-Based Side Channel Attack for Embedded Systems. Master degree thesis: Department of Electrical and Computer Engineering, University of Waterloo, Waterloo, Ontario, Canada, 2005.

[7]     Yang B., Wu K., Karri R. Scan-based Side-Channel Attack on Dedicated Hardware Implementations of Data Encryption Standard // In Proceedings of the International Test Conference on International Test Conference (CCS ’05). New York, USA, 2005. P. 139-146.

[8]     Maistri P., Leveugle R., Bossuet L., Aubert A., Fischer V., Robisson B., Moro N., Maurine P., Dutertre J.-M., Lisart M. ElectroMagnetic Analysis and Fault Injection onto Secure Circuits // 22nd IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC 2014). Playa del Carmen, Mexico, 2014. P. 1-6.


Тематические рубрики:
Поделиться:
 
ПОИСК
 
elibrary crossref neicon rusycon
 
ЮБИЛЕИ
ФОТОРЕПОРТАЖИ
 
СОБЫТИЯ
 
НОВОСТНАЯ ЛЕНТА



Авторы
Пресс-релизы
Библиотека
Конференции
Выставки
О проекте
Rambler's Top100
Телефон: +7 (499) 263-61-98
  RSS
© 2003-2022 «Молодежный научно-технический вестник» Тел.: +7 (499) 263-61-98