Савинов Михаил Александрович

Работа направлена на выявление возможностей электронной микроскопии в изучении структуры льда. Авторами приводятся основные принципы и режимы работы криоэлектронного микроскопа. Подробно изложен процесс предварительной подготовки образцов льда. Отмечаются возможности метода в исследованиях топологии поверхности и количественной оценке химического состава. Авторами получен и детально проанализирован  ряд изображений поверхности льда, изложены четыре подхода к описанию полученных результатов. Сделан вывод об ограниченности возможностей методов электронной микроскопии в изучении поверхности льда. Авторами обоснована необходимость разработки методики удаления плёнки жидкости с поверхности образца. Предложена возможная альтернатива в виде замены инструмента исследования. Результаты исследований могут быть актуальны области ледовых технологий, исследованиях процессов скольжения по льду.