электронный журнал
МОЛОДЕЖНЫЙ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ВЕСТНИК
Издатель Академия инженерных наук им. А.М. Прохорова. Эл No. ФС77-51038. ISSN 2307-0609
Молодежный научно-технический вестник # 05, май 2013
УДК: 535-92
Цепулин В.Г..pdf
(158.29Кб)
1. Лазерный метод измерения толщины и показателя преломления нанопленок на подложке, основанный на определении первой производной коэффициента отражения. Белов М.Л., Городничев В. А., Козинцев В.И., Федотов Ю.В. Москва : Наука и образование, 2011 г.
2. Алмазоподобный гидрогенизированный углерод, легированный медью: спектральная интерферометрия. Иванов-Омский В.И, Криворотов И.Н., Ястребов С.Г. 9, б.м. : Журнал технической физики, 1995 г., Т. 65.
3. Борн М., Вольф Э. Оновы оптики.
4. http://en.wikipedia.org/wiki/Indium_tin_oxide.
5. A simplex method for function minimization. J. A. Nelder, R. Mead.
6. http://refractiveindex.info/.
7. Electrical and optical properties of indium tin oxide thin films deposited on unheated substrates by d.c. reactive sputtering. T. Karasawa, Y. Miyata. 1993 г.
8. Лазерный рефлектометрический метод измерения толщины нанопленок золота на кварцевой подложке. Городничев В. А., Белов М. Л., Белов А. М., Березин С. В., Федотов Ю. В. Москва : Наука и образование, 2012 г.
Публикации с ключевыми словами: решение обратных задач, спектрофотометрия, интерференция в тонких пленках
Публикации со словами: решение обратных задач, спектрофотометрия, интерференция в тонких пленках
Смотри также:
Тематические рубрики:
| Авторы |
| Пресс-релизы |
| Библиотека |
| Конференции |
| Выставки |
| О проекте |
| Телефон: +7 (499) 263-61-98 |
|
 |
|||
| © 2003-2024 «Молодежный научно-технический вестник» Тел.: +7 (499) 263-61-98 | |||||
